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科學家發(fā)現(xiàn)新的唇腭裂綜合征致病基因

2013-12-24 10:59 閱讀:2137 來源:醫(yī)學論壇網 作者:孫福慶 責任編輯:云霄飄逸
[導讀] 唇腭裂是一種最常見的出生缺陷,可以唇裂或腭裂其中一種形式單獨出現(xiàn),也可以唇裂和腭裂兩種形式共同出現(xiàn)。它們能夠與其它畸形一起發(fā)生,形成一種綜合征。

    由瑞典卡羅林斯卡研究所的研究人員帶領的一個國際團隊,發(fā)現(xiàn)了一個與Van der Woude綜合征(VWS,是最常見的唇腭裂綜合征)有關的新基因。這項研究成果,發(fā)表在12月19日的國際著名期刊《American Journal of Human Genetics》雜志上,可以開辟一條改進唇腭裂家系和個人遺傳診斷法的途徑。

    唇腭裂是一種最常見的出生缺陷,可以唇裂或腭裂其中一種形式單獨出現(xiàn),也可以唇裂和腭裂兩種形式共同出現(xiàn)。它們能夠與其它畸形一起發(fā)生,形成一種綜合征。有超過350種唇腭裂綜合征,其中Van der Woude綜合征最為常見。已有研究表明,IRF6(interferon regulatory factor)基因突變可導致VWS的發(fā)生,大約70%具有VWS的人,其IRF6基因發(fā)生了突變。

    目前,通過來自瑞典、美國、芬蘭和以色列的研究人員之間進行的國際合作,已經發(fā)現(xiàn)了與VWS有關的第二個基因。研究人員從一項來自芬蘭的一個大家系的遺傳連鎖研究開始。這個家系被診斷出患有VWS,但是沒有發(fā)現(xiàn)IRF6突變。通過將受累者的DNA與來自健康家系成員的DNA進行比較,研究人員發(fā)現(xiàn)了另外一個基因,稱為GRHL3(Grainy-head like 3),這個基因僅僅在受累家系成員中發(fā)生了突變。在7個附加的VWS家系(該家系以前沒有發(fā)現(xiàn)IRF6突變)中發(fā)現(xiàn),該基因也發(fā)生了改變。

    卡羅林斯卡研究所生物科學和營養(yǎng)部門的Myriam Peyrard-Janvid博士,是這項大的國際合作研究項目的首席研究員,她說:“這個新基因GRHL3——與唇腭裂最常見的綜合征相關——的發(fā)現(xiàn),意味著收集有唇腭裂家系或孤立案例、綜合征或非綜合征樣本數據的研究人員或臨床醫(yī)生,現(xiàn)在就可以在這個基因中尋找突變。因為我們已經證明,IRF6和GRHL3中的一個或幾個多態(tài)性,可能與非綜合征性唇腭裂病例中的裂口風險增加有關。”

    為了進一步探討GRHL3在口腔畸形中的作用,6個實驗室合作,在斑馬魚和小鼠模型中,研究了這個人類基因的突變。他們發(fā)現(xiàn),缺乏GRHL3的小鼠胚胎不能正確形成上顎,出生時具有腭裂。GRHL3基因編碼一個轉錄因子,這個轉錄因子本身由IRF6調控。作者得出結論,這兩個基因,都是正確形成上顎所必須的,可能在單獨但一致的分子通路中發(fā)揮功能。這項研究凸顯了通過研究罕見病人來提高我們對疾病機制的認識的重要性。


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